擴展性極強的模塊化鐵電壓電分析儀
2000是一款擴展性極強的模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯用，可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領域的研究。
模塊化設計的2000 E具有優(yōu)異的擴展性。
- FE模塊-鐵電標準測試；
- MR模塊-磁阻和鐵性材料測試；
- RX模塊-弛豫電流測試；
- DR模塊-自放電測試。
測試基本單元：包括內置完整的計算機主機和測試版路、運算放大器、數據處理單元等，Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀測試軟件等。
Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率（標準FE模塊0.001Hz~5kHz）；
Static Hysteric 靜態(tài)電滯回線測試；
PUND 脈沖測試；
Fatigue 疲勞測試；
Retention 保持力；
Imprint 印跡；
Leakage current漏電流測試；
Thermo Measurement 變溫測試功能。
FE模塊可選測試功能：
C-V curve電容-電壓曲線；
Piezo Measurement壓電性能測試；
Pyroelectric Measurement熱釋電性能測試；
In-situ Compensation 原位補償；
DLCC 動態(tài)漏電流補償功能。
技術說明：
電壓范圍： +/- 25 V（可選的附加高壓放大器可擴展至+/- 10KV）；
電滯頻率：5 kHz（標準FE模塊）；
zui小脈沖寬度：2 μs；
zui小上升時間：1 μs；
電流放大范圍：1pA～1A；
zui大負荷電容：1μF；
輸出電流峰值：+/-1 A。
可擴展部件：
高壓放大器、激光干涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測試平臺、超導磁體、PPMS等。
MR模塊是用來研究磁阻和鐵性材料的。
此模塊提供連續(xù)電流激勵和測試，樣品上的電壓降通過高精度四點測試。
RX模塊是用來研究介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的，即施加電壓階躍后的電流響應。
該測試能將材料的馳豫電流和漏電流分開，并可記錄極化響應電流和去極化響應電流。
DR模塊用于研究電介質材料的自漏電性。
由于測試條件非常接近實際情況，因此通過這種方式可容易地測試應用于DRAM材料的合適性。
針對工業(yè)方面的應用，TF Analyzer 2000E提供了256個自動測試的通道，大大擴展了該儀器的測試功能。
以上所有的模塊可根據您的測試需求以及科研方向進行獨立選擇或者任意組合。
