電壓擊穿試驗儀

型號：HCDJC-100KV

產(chǎn)品介紹

HCDJC系列電壓擊穿試驗儀采用計算機(jī)控制，通過人機(jī)對話方式，完成對絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，工頻耐壓試驗。電壓擊穿試驗儀主要適用于固體絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖維制品、云母及其制品、塑料、薄膜復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時間的測試；電壓擊穿試驗儀采用計算機(jī)控制，可對試驗過程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的采集、處理，并可存取、顯示、打印。

測試原理

1、擊穿、耐壓試驗就是對被試品施加一定的電壓，并保持一定時間，以考慮被試品絕緣承受各種電壓的性能。絕緣電阻和吸收比試驗、泄漏電流和直流耐壓試驗以及介質(zhì)損失角測量試驗等雖然能發(fā)現(xiàn)很多絕緣缺陷，但因其試驗電壓低于被試品的工作電壓，往往對一些絕緣缺陷還不能及時發(fā)現(xiàn)，為了進(jìn)一步暴露設(shè)備缺陷，檢查電氣設(shè)備絕緣水平和確保是否能投入運(yùn)行，有必要進(jìn)行交流擊穿及耐壓試驗。

2、它是鑒定電氣設(shè)備絕緣強(qiáng)度*有效*直接的方法，它對于判斷電器設(shè)備能否投入運(yùn)行具有決定性的意義。交流耐壓試驗的電壓、波形、頻率和在被試品絕緣內(nèi)部電壓的分布均符合實(shí)際運(yùn)行情況，因此，交直流擊穿、耐壓試驗?zāi)苡行У匕l(fā)現(xiàn)電氣設(shè)備存在的較危險的集中性缺陷。試驗電壓越高，發(fā)現(xiàn)絕緣缺陷的有效性越高。.

設(shè)備優(yōu)勢

電壓擊穿試驗儀大都采用的光耦隔離方式，但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對于電弧放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。華測****的TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)，將起到對控制系統(tǒng)的**防護(hù)。

多級循環(huán)電壓采集技術(shù)：

材料擊穿后，瞬間放電速度約為光速的1/5～1/3,國際通用的方法為壓降法進(jìn)行采集擊穿電壓。即變壓器的初級電壓瞬間下降一定比率來判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差。而采用多級循環(huán)采集技術(shù)對擊穿后的電壓采集將解決此難題。。華

低通濾波電流監(jiān)測技術(shù):

高壓壓放電過程中將產(chǎn)生高頻信號。而無論是國產(chǎn)與進(jìn)口電流采集傳感器，大都為工頻電流傳感器。而采集過程中無法將高頻信號處理時，從而造成檢測不準(zhǔn)確。無論是采用磁通門或霍爾原理所設(shè)計的傳感器存在擊穿后瞬間輸出電壓或電流信號過大，從而燒壞控制系統(tǒng)的采集部分。華測開發(fā)的低濾波電流采集傳感器將高頻雜波信號進(jìn)行相應(yīng)處理。同時華測****的保護(hù)模塊來保證采集精度與保護(hù)采集元件。

雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù)：

國內(nèi)**采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)應(yīng)用于電擊穿儀器，華測生產(chǎn)的電壓擊穿儀器不僅具備過壓、過流保護(hù)系統(tǒng)，它***雙系統(tǒng)互鎖機(jī)制，當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時，將瞬間切斷高壓。技術(shù)，將起到對控制系統(tǒng)的**防護(hù)。

SPWM電子升壓技術(shù)

目前進(jìn)口設(shè)備大都采用SPWM電子升壓技術(shù)，這一技術(shù)具有升壓速度平穩(wěn)，精度高。便于維護(hù)等優(yōu)點(diǎn)是調(diào)壓器無法比擬的。

軟件功能

操作系統(tǒng)：支持XP，win7,win8系統(tǒng)，操作人性化；

實(shí)時監(jiān)測：在實(shí)驗過程中可以動態(tài)顯示試驗曲線；

數(shù)據(jù)導(dǎo)出：試驗結(jié)果方便導(dǎo)出。

實(shí)驗報告：自定義報告名稱，并對實(shí)驗報告進(jìn)行打?。?span>

試驗方式：直流試驗和交流試驗、進(jìn)行選擇；

試驗方法：擊穿電壓、耐壓試驗、階梯升壓等多種選擇；